实时采样技术是普通电子测量仪器中常用的信号采集手段，其对信号数据获取的能力受到仪器中A/D?？榈膠ui高采样率的限制。为了弥补这个限制，我们采用随机采样技术，这样对于器件的选用有很大的余地，可大幅度降低制造成本。

随机采样的原理

    根据Nyquist采样定理，当信号的频率远远大于A/D的采样频率时，信号波形是无法重新构建的。所以对高速的信号可以采用随机采样。随机采样是通过测量每次A/D采样序列的起点和固定基准点(信号触发点)的时间差Δt，由于Δt具有随机性，所以通过对信号的n次采样，如果n足够大，通过随机采样序列的叠加就可以将信号波形恢复出来。其原理如图1所示。

数字荧光示波器中随机采样技术的设计与实现

    由于每轮采样时，Δt是一个随机值，如果将取样周期T等分为M段，每段分别对应0～M-1间的一个值。经过若干轮采样后，就可以取遍一个采样周期T内所有的M值。在周期性输入信号的前提下，就可以用多轮采样数据序列重建出原信号波形。在图1中，M=4，需要进行四轮采样。

随机采样系统的总体设计方案

系统电路设计方案

    图2为随机采样系统电路框图。被测信号经模拟通道进行衰减、放大后，由快速模数转换器(FADC)进行采样和量化，将采样后的数据送至FPGA并缓存在FIFO中。同时被测信号经触发电路后产生触发信号，经随机采样时间测量电路产生触发点与其后*个采样脉冲之间的时间差Δt。慢速模数转换器SADC把Δt变为数字量，送至FPGA。

    FPGA是系统的控制核心，通过SPI串行总线接收ARM发送的各种控制命令，对系统工作实行控制，并完成波形数据的数字荧光处理。

    随机采样时，FPGA内部的控制模块根据ARM发来的控制命令对外部随机采样时间测量电路的工作进行控制，波形重建?？楦荻寥〉闹导扑愠龆杂Φ?～M-1间某个组数值I，并根据I值进行各组采样数据的排序，计算出对应的RAM存储地址，并将FIFO中缓存的各组采样数据按相应的地址存入RAM中。
当组数值I遍布0～M-1间所有值时，则一个完整的波形已经被重建好，波形重建模块将RAM中组好的数据送至数字荧光处理?？樽晃允静ㄐ蔚耐枷袷荩钟獯砟？榛岫ㄊ苯ㄐ瓮枷袷菟椭罙RM显示。

    整个随机采样时间测量电路的关键是对Δt的测量和波形数据的重组。